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微距測量與3D物件偵測

AI + AOI 解決方案

AI + AOI
微米級精度
3D建模
即時分析

微距測量與3D物件偵測

提供微米級精度的測量解決方案,支援複雜3D物件的精確偵測與分析

產品介紹
是一種可以精確模擬量測微小物體和環境的一種技術。 它結合了人工智能科技和微小量測科技,通過精確測量技術來模擬物體的細微形貌,並進一步發展智能分析和權衡的技術。 AI奈米測量可以提供高精度的量測,可以用於量測各種形狀,體積,曲面,線等特徵。 它也可以測量多層次的微小物體,例如半導體器件,紡織品,生物材料等。 此外,AI奈米測量可以用於自動和半自動的測量工作,像自動分析圖像,測量設備的參數以及自動追蹤物件的位置等等。 我們採用AOI的先行技術,再以AI進行標注及訓練,進行微米級(µm)甚至奈米(nm)級的物件測量,提升原物料及產品的檢驗準確性。
應用領域
精密零件檢測
3D列印品質控制
模具製造驗證
電子元件測量
主要規格
±0.5μm
測量精度
1mm - 500mm
測量範圍
0.1μm
3D解析度
< 10秒
測量速度